M6 JETSTREAM
800 mm x 600 mm 大面積樣品的元素掃描與膜厚量測

產品描述

Bruker M6 JETSTREAM 是專為大型樣本的非破壞性元素分析而設計,可在短時間內掃描大型樣品,強大的分析軟體可提供最佳分析結果。

無樣品尺寸限制

M6 JETSTREAM 採開放式設計,樣品無須受限於樣品室尺寸的限制,針對超大型樣品,無須進行破壞即可進行分析。

 

提供水平與垂直兩種測量位置

M6 JETSTREAM 可依照使用者需求調整測量裝置,從而可以水平或垂直掃描樣品,針對壁掛式物體或適合平面放置的樣品,皆可進行快速掃描分析。

 

可靈活切換的多種光斑尺寸與高速測量

光斑大小可以分五個步驟進行調整,最小可至100 µm,以匹配樣品的結構和所需的空間解析度。可以選擇0.1 ms的停留時間,最小步進為10μm,再搭配100 mm/s 的最大平台速度,高品質量測可於數分鐘至數小時內完成。

The XFlash® 檢測器技術

大於300,000計數率的XFlash ®矽漂移檢測器(SDD),提供<145ev的能量解析度,極高的光譜擷取速度與極佳的解析度,可快速且精確地進行樣品分析。

應用領域

  • 品管與材料分析 Quality Control & Material Science
  • 鑑識科學 Forensics
  • 考古與藝術修復 Archeometry & Art Conservation
  • 地質 Geology