Bruker M6 JETSTREAM 是專為大型樣本的非破壞性元素分析而設計，可在短時間內掃描大型樣品，強大的分析軟體可提供最佳分析結果。
無樣品尺寸限制
M6 JETSTREAM 採開放式設計，樣品無須受限於樣品室尺寸的限制，針對超大型樣品，無須進行破壞即可進行分析。
提供水平與垂直兩種測量位置
M6 JETSTREAM 可依照使用者需求調整測量裝置，從而可以水平或垂直掃描樣品，針對壁掛式物體或適合平面放置的樣品，皆可進行快速掃描分析。
可靈活切換的多種光斑尺寸與高速測量
光斑大小可以分五個步驟進行調整，最小可至100 µm，以匹配樣品的結構和所需的空間解析度。可以選擇0.1 ms的停留時間，最小步進為10μm，再搭配100 mm/s 的最大平台速度，高品質量測可於數分鐘至數小時內完成。
The XFlash® 檢測器技術
大於300,000計數率的XFlash ®矽漂移檢測器(SDD)，提供<145ev的能量解析度，極高的光譜擷取速度與極佳的解析度，可快速且精確地進行樣品分析。
應用領域
吉達科研有限公司
