S4 T-STAR
用於超微量元素分析的高性能TXRF光譜儀

產品描述

S4 T-STAR 提供多達90個樣品的自動連續測量,無需消化,無需校正,可直接進行現場分析,最佳可達1 pg的檢測下限,快速且經濟高效,是ICP的最佳替代選擇

S4 T-STAR特點

  • S4 T-STAR 提供
  • TXRF 運營成本極低,無需氣體、冷卻介質或複雜的實驗室基礎設施
  • 自動校準功能,基本無需後期維護
  • Bruker多樣化的樣品托盤和工具為用戶提供了更多選擇,可加快樣品製備速度,降低樣品污染風險

TXRF原理

基於XRF的理論基礎,使用了單波長的輻射以及全反射式的光學原理,可減少大多數的背景雜訊,藉此讓含量非常低的元素有更高的靈敏度。可對液體、懸浮液、固體和污染物進行定量和半定量多元素微量分析(最低 0.1 ppb) 。

與一般XRF相比,TXRF具有以下優點:

  • 減少樣品基質中的吸收和散射效應
  • 螢光產量提高
  • 減少背景雜訊
  • 對微量元素具有更高的靈敏度

TXRF主要優點

相較於AAS(原子吸收光譜儀) 和ICP-OES(感應耦合電漿原子放射光譜儀),TXRF的主要優點為:

  • 不僅可用於實驗室,也可用於快速現場分析
  • 可以同時進行多種元素的微量分析,包括鹵素 (F,Cl,Br,I)
  • 運行費用低,無需任何氣體、處理或定期維護
  • 適用於各種樣品類型和應用領域

TXRF主要應用領域

  • 環境分析(廢水,懸浮微粒和污染物)
  • 食物,營養素,膳食補充劑和飲料分析
  • 臨床化學中的組織和生物液體
  • 晶圓,太陽能電池,OLED和奈米顆粒的污染分析
  • 純物質和工業產品的質量控制
  • 製藥業
  • 法醫鑑識