S4 T-STAR 提供多達90個樣品的自動連續測量，無需消化，無需校正，可直接進行現場分析，最佳可達1 pg的檢測下限，快速且經濟高效，是ICP的最佳替代選擇。
S4 T-STAR特點
- S4 T-STAR 提供
- TXRF 運營成本極低，無需氣體、冷卻介質或複雜的實驗室基礎設施
- 自動校準功能，基本無需後期維護
- Bruker多樣化的樣品托盤和工具為用戶提供了更多選擇，可加快樣品製備速度，降低樣品污染風險
TXRF原理
基於XRF的理論基礎，使用了單波長的輻射以及全反射式的光學原理，可減少大多數的背景雜訊，藉此讓含量非常低的元素有更高的靈敏度。可對液體、懸浮液、固體和污染物進行定量和半定量多元素微量分析(最低 0.1 ppb) 。
與一般XRF相比，TXRF具有以下優點：
- 減少樣品基質中的吸收和散射效應
- 螢光產量提高
- 減少背景雜訊
- 對微量元素具有更高的靈敏度
TXRF主要優點
相較於AAS(原子吸收光譜儀) 和ICP-OES(感應耦合電漿原子放射光譜儀)，TXRF的主要優點為：
- 不僅可用於實驗室，也可用於快速現場分析
- 可以同時進行多種元素的微量分析，包括鹵素 (F,Cl,Br,I)
- 運行費用低，無需任何氣體、處理或定期維護
- 適用於各種樣品類型和應用領域
TXRF主要應用領域
- 環境分析（廢水，懸浮微粒和污染物）
- 食物，營養素，膳食補充劑和飲料分析
- 臨床化學中的組織和生物液體
- 晶圓，太陽能電池，OLED和奈米顆粒的污染分析
- 純物質和工業產品的質量控制
- 製藥業
- 法醫鑑識
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