M1 MISTRAL
鍍層膜厚、貴金屬、合金含量與RoHS禁用物質

產品描述

Bruker M1 MISTRAL 是一款非常精巧的光譜儀,結合了X 射線螢光與微區分析技術,對塊狀材料和塗佈層進行分析。您不需要進行任何樣品準備作業,便可以對各種尺寸之樣品進行非破壞性的量測。其應用範圍包括各種電子元件、珠寶飾品、歐盟危害性物質限制指令(RoHS)、汽車產業...等等。

除了可快速篩選禁用元素的優勢外,M1 MISTRAL可使用小光斑尺寸,針對特定的樣品區域進行多點自動測量,從而確保完整樣品表面或多個樣品的系統篩選。

Bruker M1 MISTRAL 搭載了高性能高解析度的矽漂移檢測器(SDD), 有別於經常使用於鍍層膜厚量測機台的比例計數器(PC),矽漂移檢測器(SDD)可避免元素干擾並大幅降低檢測下限,檢測和訊號處理系統的設計可確保最高效率和快速分析速度。

XSpect / XData軟體提供了從光譜採集,評估到報告的測量管理。可以使用基於標準品檢量線(Calibration curve)的定量分析或無標準品的基本參數法(FP)來對應大量樣品和塗層的分析。簡易的操作模式,可以輕鬆獲得可靠的結果。

 

應用領域

  • 金屬電鍍膜厚量測 Coating Thickness
  • 貴金屬分析 Precious Metals
  • 合金含量分析 Alloy
  • RoHS/無鹵有害元素篩選 Restricted Mateials