Bruker M1 MISTRAL 是一款非常精巧的光譜儀，結合了X 射線螢光與微區分析技術，對塊狀材料和塗佈層進行分析。您不需要進行任何樣品準備作業，便可以對各種尺寸之樣品進行非破壞性的量測。其應用範圍包括各種電子元件、珠寶飾品、歐盟危害性物質限制指令(RoHS)、汽車產業...等等。
除了可快速篩選禁用元素的優勢外，M1 MISTRAL可使用小光斑尺寸，針對特定的樣品區域進行多點自動測量，從而確保完整樣品表面或多個樣品的系統篩選。
Bruker M1 MISTRAL 搭載了高性能高解析度的矽漂移檢測器（SDD）, 有別於經常使用於鍍層膜厚量測機台的比例計數器（PC），矽漂移檢測器（SDD)可避免元素干擾並大幅降低檢測下限，檢測和訊號處理系統的設計可確保最高效率和快速分析速度。
XSpect / XData軟體提供了從光譜採集，評估到報告的測量管理。可以使用基於標準品檢量線(Calibration curve)的定量分析或無標準品的基本參數法(FP)來對應大量樣品和塗層的分析。簡易的操作模式，可以輕鬆獲得可靠的結果。
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