M4 TORNADO
<20μm 極微小區域的異物檢查、元素掃描與電鍍膜厚的快速自動測量

產品描述

Bruker M4 TORNADO 使用極小光斑來獲取有關成分和元素分佈的資訊。超高速的光譜採集速度,可對幾乎任何種類的無機,有機物甚至液體樣品進行二維分析,是高度靈敏和無損元素分析的首選儀器。

20μm微小光斑

透過多毛細管的設計,將X光束聚焦在<20μm的點上,與傳統X光管所使用的準直器相比,X光點強度最多可提高10,000倍,高訊號強度與出色的空間解析度相結合,可確保以前所未有的水準進行快速測量。

The XFlash® 檢測器技術

大於300,000計數率的XFlash ®矽漂移檢測器(SDD),提供<145ev的能量解析度,極高的光譜擷取速度與極佳的解析度,可快速且精確地進行樣品分析。

支援雙檢測器

可選配第二支檢測器,除了可提高數據採集速度外,因第二支檢測器安裝在不同的位置,可以輕鬆識別在分析晶體材料時產生的繞射峰,並可減少掃描粗糙樣品時的陰影效應。

支援雙X光管

M4 TORNADO 標準配備銠靶X光管,為了更靈活地激發樣品,可選配第二支X光管,第二支X光管可依使用者需求,選擇不同靶材、準直器或多毛細管光學元件與濾波器。

 

高速電動樣品平台

大面積的TurboSpeed平台,可在最高 100 mm/s 的速度下移動,結合「on the fly」量測方式,確保檢測器持續收集訊號,以便在最快的速度下獲得元素分布圖。搭配大容量的樣品室,可以讓樣品平台有 200 x160 x 120 mm 的移動空間。

HyperMap光譜分析

除了點和線的掃描之外,HyperMap定位標示光譜功能,可針對某個區域進行快速掃描。而每個量測位置的完整光譜資訊都會被收集下來,並儲存到資料庫中,以便進行完整的資料評估。HyperMap 可以讓您非常輕易地在連線和離線狀態下,搜尋所需要的資料。

 

應用領域

  • 品管與材料分析 Quality Control & Material Science
  • 鑑識科學 Forensics
  • 考古與藝術修復 Archeometry & Art Conservation
  • 地質 Geology
  • RoHS/無鹵有害元素篩選 Restricted Mateials
  • 生物科學 Bioscience