Bruker M4 TORNADO 使用極小光斑來獲取有關成分和元素分佈的資訊。超高速的光譜採集速度，可對幾乎任何種類的無機，有機物甚至液體樣品進行二維分析，是高度靈敏和無損元素分析的首選儀器。
20μm微小光斑
透過多毛細管的設計，將X光束聚焦在<20μm的點上，與傳統X光管所使用的準直器相比，X光點強度最多可提高10,000倍，高訊號強度與出色的空間解析度相結合，可確保以前所未有的水準進行快速測量。
The XFlash® 檢測器技術
大於300,000計數率的XFlash ®矽漂移檢測器(SDD)，提供<145ev的能量解析度，極高的光譜擷取速度與極佳的解析度，可快速且精確地進行樣品分析。
支援雙檢測器
可選配第二支檢測器，除了可提高數據採集速度外，因第二支檢測器安裝在不同的位置，可以輕鬆識別在分析晶體材料時產生的繞射峰，並可減少掃描粗糙樣品時的陰影效應。
支援雙X光管
M4 TORNADO 標準配備銠靶X光管，為了更靈活地激發樣品，可選配第二支X光管，第二支X光管可依使用者需求，選擇不同靶材、準直器或多毛細管光學元件與濾波器。
高速電動樣品平台
大面積的TurboSpeed平台，可在最高 100 mm/s 的速度下移動，結合「on the fly」量測方式，確保檢測器持續收集訊號，以便在最快的速度下獲得元素分布圖。搭配大容量的樣品室，可以讓樣品平台有 200 x160 x 120 mm 的移動空間。
HyperMap光譜分析
除了點和線的掃描之外，HyperMap定位標示光譜功能，可針對某個區域進行快速掃描。而每個量測位置的完整光譜資訊都會被收集下來，並儲存到資料庫中，以便進行完整的資料評估。HyperMap 可以讓您非常輕易地在連線和離線狀態下，搜尋所需要的資料。
應用領域
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