吉達科研有限公司

傳統手持式XRF可以測量到最輕的元素是鎂(Mg)。Bruker新型的TRACER 5g手持式XRF專為顯著提高更輕元素的靈敏度而設計，可進行氟(F)的廢破壞快速測量。本網路研討會將重點介紹使用手持式XRF技術，應用於半導體和滑雪蠟中氟的分析。

概述

具有氟(F, 最活潑和最輕的鹵素）的化合物可用於多種用途。應用包括高溫塑料，防護衣表面處理，自行車鏈條油和潤滑劑，滑雪板和滑雪板蠟，半導體加工，助焊劑和電線絕緣。鑑定樣品中的氟含量卻是一個挑戰。耗時且具有破壞性的濕式化學分析方法已成為歷史選擇，現在已有無損，簡單且快速的測量技術。

本網路研討會將有15分鐘的問答時間，我們的專家將回答您的問題。

誰應參加

• 半導體製造業的品管人員
• 應用研究，工業，監管和服務中心的科學家

時間

台灣 3/31 (三) AM 7:00

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